Kelvin Probe Force Microscopy Measuring And Compensating Electrostatic Forces

٦٢٤٫٠٠ ر.س.‏
+ ١٠٤٫٤٩ ر.س.‏ الشحن

Kelvin Probe Force Microscopy Measuring And Compensating Electrostatic Forces

البائع:
  • product image

٦٢٤٫٠٠ ر.س.‏

في المخزون
+ ١٠٤٫٤٩ ر.س.‏ الشحن

سياسة الإرجاع لمدة 14 يوما

طرق الدفع:

تفاصيل المنتج

تفاصيل المنتج

Kelvin Probe Force Microscopy Measuring And Compensating Electrostatic Forces

Over The Nearly 20 Years Of Kelvin Probe Force Microscopy, An Increasing Interest In The Technique And Its Applications Has Developed. This Book Gives A Concise Introduction Into The Method And Describes Various Experimental Techniques. Surface Potential Studies On Semiconductor Materials, Nanostructures And Devices Are Described, As Well As Application To Molecular And Organic Materials.
  • العلامة التجارية: Springer Nature B.V
  • الفئة: الحاسبات والإنترنت
  • حَجْم: Paperback
  • اللغة: English
  • المؤلف: Springer Nature B.V
  • عدد الصفحات: 348
  • تاريخ النشر: 2013-11-30
  • الناشر/ العنوان: Springer Nature B.V
  • هوية Fruugo: 557245871-1125515704
  • ISBN: 9783642271137
التوصيل

توصيل

يُرسل خلال 24 ساعة

  • STANDARD: ١٠٤٫٤٩ ر.س.‏ - التسليم بين الثلاثاء 10 نوفمبر 2026 – الجمعة 13 نوفمبر 2026

يُشحن من المملكة المتحدة.

الإرجاع

الإرجاع

نحن نبذل قصارى جهدنا لضمان أن تصلك المنتجات التي تطلبها بالكامل وطبقاً المواصفات التي حددتها. إلا أنه في حال تلقيك طلب غير كامل أو أغراض تختلف عن تلك التي طلبتها أو كان هناك سبب آخر يدعوك لعدم الرضاء عن الطلب، فيمكنك رد الطلب أو أي منتجات يتضمنها الطلب واسترداد ما دفعته من أجل تلك الأغراض بالكامل.

عرض سياسة الرد الكاملة